באַטערי פּאַק טעסטער (פּאָרטאַטיוו) פֿאַר מאָביל טעלעפאָן & דיגיטאַל פּראָדוקטן
איבערבליק
דאָס איז די פּאַק פולשטענדיק טעסטער וואָס איז געווענדט צו די יקערדיק קעראַקטעריסטיקס טעסץ פון לי-יאָן באַטאַרייע פּאַק און דער שוץ יק (סופּפּאָרטינג I2C, SMBus, HDQ קאָמוניקאַציע פּראָטאָקאָלס).
באַסיק Fעסטורע טווינטער זייגער
• עפֿענען-קרייַז וואָולטידזש
• מאַסע וואָולטידזש
• דינאַמיש מאַסע פּרובירן
• אַסיר פּרובירן;
• טהר פּרובירן
• IDR פּרובירן
• נאָרמאַל טשאַרדזשינג וואָולטידזש פּרובירן
• נאָרמאַל דיסטשאַרדזשינג וואָולטידזש פּרובירן
• קאַפּאַסיטאַנסע פּרובירן
• ליקאַדזש פּרובירן
• IDR / THR און קאַפּאַסאַטאַנס פּרובירן קאָנטראָל אויף-אַוועק
שוץ פיטשער טעסץ
• איבער קראַנט שוץ פּרובירן: טשאַרדזשינג איבער קראַנט שוץ פונקציאָנירן, שוץ פאַרהאַלטן צייַט און אָפּזוך פונקציאָנירן פּרובירן
היגהליגהץ ：
- קליין מיטל, גרינג צו פירן
- מאַדזשאַלער פּלאַן, גרינג צו טייַנען
- פאַרשידן דאַטן באַריכט
- הויך רילייאַבילאַטי
- טעסט דאַטן זענען באַקוועם פֿאַר פאַרוואַלטונג און קאָנטראָל, הויך זיכערהייט און גרינג צו שפּור
- שנעל פּרובירן גיכקייַט (קאַנווענשאַנאַל ניט-באַטאַרייע פאַרוואַלטונג פּרובירן נעמט וועגן 2 ס און די שוץ צינגל צייט איז ווייניקער ווי 100 מס)
ספּעסאַפאַקיישאַנז:
|
אינדעקס |
ספּעסאַפאַקיישאַנז |
אַקיעראַסי |
|
עפענען-קרייַז וואָולטידזש |
0.1 ～ 10 וו |
± （0.01% RD + 0.05% FS |
|
אַסיר פּרובירן |
0 ～ 1250 מ. |
± （0.15% רד + 1 מ） |
|
טהר פּרובירן |
200 ～ 1 ב |
± （0.1% רד + 100） |
|
1 ם ~ 3 ם |
± （0.1% רד + 500） |
|
|
IDR פּרובירן |
200 ～ 1 ב |
± （0.1% רד + 100） |
|
1 ם ~ 3 ם |
± （0.1% רד + 500） |
|
|
נאָרמאַל טשאַרדזשינג קראַנט פּרובירן (טשאַרדזשינג איבער-קראַנט שוץ & שוץ פאַרהאַלטן) |
0.1 ～ 2 אַ |
± （0.01% RD + 0.05% FS |
|
2 ～ 30 אַ |
± （0.01% RD + 0.02% FS |
|
|
נאָרמאַל דיסטשאַרדזשינג קראַנט פּרובירן (דיסטשאַרדזשינג איבער-קראַנט שוץ & שוץ פאַרהאַלטן) |
0.1 ～ 2 אַ |
± （0.01% רד + 0.5 מאַ） |
|
2 ～ 30 אַ |
± （0.02% רד + 0.5 מאַ） |
|
|
קאַפּאַסיטאַנס פּרובירן |
0.1 ～ 10 וף |
± （5% רד + 0.05 וף） |
|
קורץ-קרייַז שוץ פּרובירן (אַטשיווד דורך שוץ פאַרהאַלטן) |
2 ～ 30 אַ |
± （0.02% רד + 0.5 מאַ） |
